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電鍍層的厚度檢測(cè)

點(diǎn)擊次數(shù)：1404 更新時(shí)間：2010-11-22

　　檢測(cè)電鍍層厚度的方法有很多。根據(jù)檢測(cè)方法的原理可以分為物理法和化學(xué)法兩大類?；瘜W(xué)法有溶解法、計(jì)時(shí)流液法、電量法等；物理法有直接測(cè)量法、質(zhì)量法、磁性法、β射線反射法、X射線熒光法、多相顯微鏡法、輪廓儀法等。
　　
　　溶解法是將一定表面積的鍍層用化學(xué)試劑溶解下來(lái)，然后將試樣稱重得到溶解下鍍層的質(zhì)量，再根據(jù)鍍層金屬的密度和試樣的面積可以換算得到鍍層的厚度。溶解法不適宜鍍層與基體金屬含有相同金屬成分的鍍層厚度檢測(cè)。
　　
　　計(jì)時(shí)流液法讓一定流速的細(xì)流溶液與試樣鍍層作用使試樣鍍層局部液解。根據(jù)溶液顏色的變化，或電勢(shì)的變化，或電流的變化來(lái)確定鍍層*溶解的終點(diǎn)。鍍層的厚度是根據(jù)溶解所需要的時(shí)間來(lái)計(jì)算的。
　　
　　計(jì)時(shí)點(diǎn)滴法是讓小滴試液在鍍層表面局部停留一定時(shí)間后再更換新液滴，直到將鍍層溶解露出基體金屬為止。然后，根據(jù)溶解鍍層所用時(shí)間來(lái)計(jì)算鍍層厚度。該方法精度較低，很少使用。目前僅用于厚度小于l．2μm的薄鉻鍍層。
　　
　　電量法是將已知鍍層表面積的試樣用恒定電流密度的電流進(jìn)行陽(yáng)電解溶解，當(dāng)鍍層金屬溶解完畢時(shí)，試樣的電勢(shì)發(fā)生突變。根據(jù)試樣鍍層面積、電解通過(guò)的電量、電流效率、鍍層金屬的密度等來(lái)確定鍍層的厚度。該方法對(duì)多層金屬鍍層可以更換電解液進(jìn)行連續(xù)測(cè)定。
　　
　　斷面金相法是將被測(cè)試樣制備成斷面試樣，然后在顯微鏡下觀察測(cè)量鍍層厚度。該方法測(cè)量精度高，重現(xiàn)性好。缺點(diǎn)是要專門制備試樣，操作較麻煩，一般不用作車間生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)鍍層厚度的檢測(cè)。
　　
　　磁性法是以探頭測(cè)量試樣的磁通量和互感電流。磁性基體表面的非磁性鍍層或其他覆蓋層厚度不同對(duì)磁通量和互感電流的影響是呈線性變化的。通過(guò)這些物理量的變化值來(lái)確定覆蓋層的厚度。該方法測(cè)量鍍層厚度時(shí)對(duì)試樣無(wú)損傷，可用于鐵基體上非磁性覆蓋層的測(cè)量，如電鍍層、噴涂層、涂料層、塑料層和陶瓷層等。是電鍍工業(yè)廣泛使用的測(cè)厚方法之一。
　　
　　β射線反向散射法是將放射性同位素的β射線射向試樣，然后一些射線被反射至探測(cè)器。反射的β射線的強(qiáng)度與鍍層種類和厚度有關(guān)，因此可以測(cè)得鍍層的厚度。該方法精度高，適用于大多數(shù)金屬鍍層，若鍍層金屬與基體金屬之間的原子序數(shù)相差較大時(shí)，厚度測(cè)量的靈敏度也會(huì)提高，故該方法特別適用于測(cè)量貴金屬鍍層。
　　
　　X射線熒光法是利用X射線來(lái)激發(fā)鍍層和基體金屬的特性X射線，通過(guò)測(cè)量鍍層衰減后的X射線的強(qiáng)度來(lái)確定被測(cè)鍍層的厚度。該方法精度高，可以用于大多數(shù)鍍層和金屬基體。但是所測(cè)厚度需要用標(biāo)準(zhǔn)樣品校正。
　　
　　輪廓儀法測(cè)試鍍層厚度的原理是溶解鍍層（驗(yàn)收試驗(yàn)）或在電鍍前掩蓋一部分基體（生產(chǎn)檢驗(yàn)）以形成一臺(tái)階。用輪廓記錄儀測(cè)量臺(tái)階的高度。該方法的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)是《GB／Tll378—2005金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量輪廓儀法》。。上一篇開(kāi)特-橡膠平板硫化機(jī)的特點(diǎn)及參數(shù) 下一篇分享詳解維氏硬度計(jì)的應(yīng)用與試驗(yàn)原理

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